參加上海耀谷咨詢公司培訓，免費拿精彩世博會門票或紀念品！
活動時間：2010年5月1日至2010年10月31日
活動內容：
1、 只要報名參加上海耀谷公司舉辦的任一培訓課程，每位報名者就有機會獲得世博會門票或豐富的世博會紀念品；
2、 所有章節考試都滿分者，耀谷公司獎勵世博會門票一張或世博會紀念品一款，即一次報名參加培訓，享受兩次獲獎機會；
3、 耀谷公司舉辦每期公開培訓班均設立幸運獎1-5名，抽中者可免費獲得世博會門票一張或世博會紀念品一款；
4、 提前一個月注冊者亦可免費獲贈世博會門票一張或世博會紀念品一款；
5、 成功推薦一位學員者可免費獲贈世博會門票一張或世博會紀念品一款；
優質的培訓，限時的搶禮，大家趕快行動起來吧！
SPC培訓通知
二天課程 以分析過程變差著手，以基本的統計概念為先導，介紹統計過程控制的原理和實踐;使學員認識為何SPC是持續改進的工具和SPC在過程控制中的作用。對于*版的基本控制圖和第二版中新增的各種特殊控制圖，以實際實踐講解其應用環境，應用步驟及其原理。講解如何使用統計軟件（Excel，Minitab等）進行SPC分析，以使學員盡快將SPC運用到日常工作實踐中。
培訓特色 我們注重理論的同時，更是通過大量的實例講解和練習，使學員理解各種控制圖的應用；關注如何來閱讀SPC圖上的信息并作出反應。
培訓教材：
每位參加人員將獲得一套培訓手冊，小組練習及案例精選。
主辦單位：上海耀谷管理咨詢有限公司
適合對象：項目經理，設計、質量，工藝、設備和制造工程師，質量檢驗員，質量體系、供應商管理人員。直接負責準備PPAP的人員或APQP小組成員。
培訓時間：2天
講課時間：9:00 — 17:30 午餐時間：12:00 — 13:00
內容簡介：
*章?基本統計概念
? 總體和樣本
? 數據分析方法、直方圖
? 正態分布及性質
? 常用統計量：均值、中位數、極差、標準差、移動極差?
第二章?持續改進和統計過程控制
? 預防和探測
? 過程控制系統
? 變差的普通原因和特殊原因
? 局部措施和對系統采取措施（過度調整和戴明漏斗試驗）
? 過程控制和過程能力
? 過程改進循環和過程控制
? 控制圖：過程控制和改進的工具
? 控制圖的有效使用和益處
第三章 控制圖運用步驟
? 控制圖運用步驟
? 定義過程
? 確定作圖的特性
? 選擇控制圖
? 測量系統分析
? 決定抽樣方式
第四章 計量型控制圖
? 平均值極差控制圖
? 平均值標準差控制圖
? 中位數極差控制圖
? 單值移動極差控制圖
? 第二版新增的復雜SPC控制圖
? 預控圖
? 標準化控制圖
? 計數型標準化控制圖
? 檢測小位移的控制圖
? CUSUM控制圖
? EWMA控制圖
第五章 認識計量型數據的過程能力和過程性能
? 過程術語的定義
? 條件描述
? 建議使用的過程測量
? 過程能力CPK實例
? 雙向公差的能力分析
? 單向公差的能力分析
? 過程性能指數PPK，設備能力指數CMK比較
第六章 計數型控制圖
? P控制圖
? Np控制圖
? C圖
? U圖
附錄
? 附錄A 關于抽樣的一些解釋
? 附錄B 關于特殊原因的一些評述
? 附錄C Cpm和其他指數的關系
? 附錄D 控制圖的常數
? 附錄E 控制圖控制限公式表
? 附錄F 標準正態表
業界資深專業講師親臨授課，相同的領域，不同的深度，但卻是為了共同的追求！詳情請登錄
聯系人：
Jason:
